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Castro Alves, Vladimir

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Works: 12 works in 25 publications in 2 languages and 525 library holdings
Genres: Conference papers and proceedings 
Roles: Author, Editor
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Most widely held works by Vladimir Castro Alves
XII Symposium on Integrated Circuits and Systems Design : proceedings : Natal-RN, Brazil, September 29-October 2, 1999 by Symposium on Integrated Circuits and Systems Design( )

7 editions published between 1999 and 2002 in English and held by 256 WorldCat member libraries worldwide

XI Brazilian Symposium on Integrated Circuit Design : proceedings : September 30-October 3, 1998, Armação de Búzios, Rio de Janeiro, Brazil by Simpósio de Concepção de Circuitos Integrados( )

7 editions published between 1998 and 2002 in English and held by 255 WorldCat member libraries worldwide

SBCCI'99 : Symposium on integrated circuits and systems design : proceedings : September 29-October 2, 1999, Natal, RN, Brazil by Simpósio de Concepção de Circuitos Integrados( Book )

1 edition published in 1999 in English and held by 3 WorldCat member libraries worldwide

XII Brazilian Symposium on Integrated Circuits and Systems Design : proceedings by Symposium on Integrated Circuits and Systems Design( Book )

1 edition published in 2000 in English and held by 3 WorldCat member libraries worldwide

Modèles de pannes et algorithmes de test pour mémoires RAMs multi-port by Vladimir Castro Alves( )

2 editions published in 1992 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

Depuis une dizaine d'années, les concepteurs de circuits intégrés et de systèmes sont à l'origine d'une très grande diversification des types de mémoire RAM disponibles en tant que composants standards ou éléments de bibliothèque de cellules. Ce sont des composants tels que les LIFOs, les FIFOs, les mémoires adressables par le contenu (CAMs), les vidéo-RAMs et les RAMS multi-port, pour ne citer que les plus importantes. Si ces nouveautés ont apporté une plus grande flexibilité au niveau de la conception architecturale des systèmes, elles sont également à l'origine de nouveaux problèmes dans le domaine du test de circuits intégrés. Le chapitre I est donc consacré à une présentation générale des mémoires RAMs CMOS simple-port et multi-port. Nous présentons également un nouveau modèle fonctionnel pour mémoires multi-port qui permet de prendre en compte uniquement les parties que l'on doit tester. Le chapitre II présente l'état de l'art du test de RAMs. Les principaux modèles de pannes sont décrits, ainsi que les algorithmes de test les plus utilisés dans l'industrie. Le chapitre III est consacré tout d'abord à la présentation de nouveaux modèles de pannes qui représentent mieux tous les défauts pouvant affecter une mémoire multi-port. Trois algorithmes de test, assurant la détection de ces pannes sont présents et leurs couvertures de pannes respectives sont analysées en détail. Finalement, nous réduisons la complexité de ces algorithmes en utilisant une approche topologique avec laquelle on obtient une complexité en O(n). Le chapitre IV présente l'état de l'art en ce qui concerne les techniques d'auto-test intégré (BIST) pour RAM. Dans le chapitre V nous présentons l'implémentation d'un prototype de générateur de circuit BIST pour mémoires double-port. Le chapitre VI clos ce mémoire par: 1) l'étude de modèles de pannes et algorithmes de test pour mémoires orientées mot avec un multiplexage colonne inférieur à 4:1, 2) le test simultané de mémoires enterrées, 3) et les techniques de partitionnement pour le test de mémoires à 3 ports ou plus
Proceedings September 30-October 3 1998, Armação de Buzios, Rio de Janeiro, Brasil by Symposium on Integrated Circuits and Systems Design( Book )

1 edition published in 1998 in English and held by 1 WorldCat member library worldwide

XII symposium on integrated circuits and systems design( Book )

1 edition published in 1999 in English and held by 1 WorldCat member library worldwide

Proceedings by Symposium on Integrated Circuits and Systems Design( Book )

1 edition published in 1999 in English and held by 1 WorldCat member library worldwide

SBCCI 99 proceedings, September 29-October 3 1999, Natal, RN, Brazil by Symposium on Integrated Circuits and Systems Design( Book )

1 edition published in 1999 in English and held by 1 WorldCat member library worldwide

XI Brazilian symposium on integrated circuit design( Book )

1 edition published in 1998 in English and held by 1 WorldCat member library worldwide

Proceedings : Natal, RN, Brazil, September 29 to October 2, 1999 by SBCCI( Book )

1 edition published in 1999 in English and held by 1 WorldCat member library worldwide

Modélisation de pannes et algorithmes de test pour mémoires RAMs multiport by Vladimir Castro Alves( Book )

1 edition published in 1992 in French and held by 0 WorldCat member libraries worldwide

DEPUIS UNE DIZAINE D'ANNEES, LES CONCEPTEURS DE CIRCUITS INTEGRES ET DE SYSTEMES SONT A L'ORIGINE D'UNE TRES GRANDE DIVERSIFICATION DES TYPES DE MEMOIRE RAM DISPONIBLES EN TANT QUE COMPOSANTS STANDARDS OU ELEMENTS DE BIBLIOTHEQUE DE CELLULES. CE SONT DES COMPOSANTS TELS QUE LES LIFOS, LES FIFOS, LES MEMOIRES ADRESSABLES PAR LE CONTENU (CAMS), LES VIDEO-RAMS ET LES RAMS MULTI-PORT, POUR NE CITER QUE LES PLUS IMPORTANTES. SI CES NOUVEAUTES ONT APPORTE UNE PLUS GRANDE FLEXIBILITE AU NIVEAU DE LA CONCEPTION ARCHITECTURALE DES SYSTEMES, ELLES SONT EGALEMENT A L'ORIGINE DE NOUVEAUX PROBLEMES DANS LE DOMAINE DU TEST DE CIRCUITS INTEGRES. LE CHAPITRE I EST DONC CONSACRE A UNE PRESENTATION GENERALE DES MEMOIRES RAMS CMOS SIMPLE-PORT ET MULTI-PORT. NOUS PRESENTONS EGALEMENT UN NOUVEAU MODELE FONCTIONNEL POUR MEMOIRES MULTI-PORT QUI PERMET DE PRENDRE EN COMPTE UNIQUEMENT LES PARTIES QUE L'ON DOIT TESTER. LE CHAPITRE II PRESENTE L'ETAT DE L'ART DU TEST DE RAMS. LES PRINCIPAUX MODELES DE PANNES SONT DECRITS, AINSI QUE LES ALGORITHMES DE TEST LES PLUS UTILISES DANS L'INDUSTRIE. LE CHAPITRE III EST CONSACRE TOUT D'ABORD A LA PRESENTATION DE NOUVEAUX MODELES DE PANNES QUI REPRESENTENT MIEUX TOUS LES DEFAUTS POUVANT AFFECTER UNE MEMOIRE MULTI-PORT. TROIS ALGORITHMES DE TEST, ASSURANT LA DETECTION DE CES PANNES SONT PRESENTS ET LEURS COUVERTURES DE PANNES RESPECTIVES SONT ANALYSEES EN DETAIL. FINALEMENT, NOUS REDUISONS LA COMPLEXITE DE CES ALGORITHMES EN UTILISANT UNE APPROCHE TOPOLOGIQUE AVEC LAQUELLE ON OBTIENT UNE COMPLEXITE EN O(N). LE CHAPITRE IV PRESENTE L'ETAT DE L'ART EN CE QUI CONCERNE LES TECHNIQUES D'AUTO-TEST INTEGRE (BIST) POUR RAM. DANS LE CHAPITRE V NOUS PRESENTONS L'IMPLEMENTATION D'UN PROTOTYPE DE GENERATEUR DE CIRCUIT BIST POUR MEMOIRES DOUBLE-PORT. LE CHAPITRE VI CLOS CE MEMOIRE PAR: 1) L'ETUDE DE MODELES DE PANNES ET ALGORITHMES DE TEST POUR MEMOIRES ORIENTEES MOT AVEC UN MULTIPLEXAGE COLONNE INFERIEUR A 4:1, 2) LE TEST SIMULTANE DE MEMOIRES ENTERREES, 3) ET LES TECHNIQUES DE PARTITIONNEMENT POUR LE TEST DE MEMOIRES A 3 PORTS OU PLUS
 
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XII Symposium on Integrated Circuits and Systems Design : proceedings : Natal-RN, Brazil, September 29-October 2, 1999 SBCCI'99 : Symposium on integrated circuits and systems design : proceedings : September 29-October 2, 1999, Natal, RN, Brazil XII Brazilian Symposium on Integrated Circuits and Systems Design : proceedings XII symposium on integrated circuits and systems design Proceedings Proceedings : Natal, RN, Brazil, September 29 to October 2, 1999
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SBCCI'99 : Symposium on integrated circuits and systems design : proceedings : September 29-October 2, 1999, Natal, RN, BrazilXII Brazilian Symposium on Integrated Circuits and Systems Design : proceedingsXII symposium on integrated circuits and systems designProceedingsProceedings : Natal, RN, Brazil, September 29 to October 2, 1999
Alternative Names
Alves, Vladimir Castro

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