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Etcheberry, Arnaud (1951-....).

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Works: 33 works in 49 publications in 2 languages and 85 library holdings
Roles: Thesis advisor, Other, Opponent, Author
Publication Timeline
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Most widely held works by Arnaud Etcheberry
L'eau à découvert by Luc Abbadie( )

2 editions published in 2017 in French and held by 29 WorldCat member libraries worldwide

Indispensable à la régulation du climat, au développement de la vie sur Terre, au maintien des écosystèmes, aux populations, au développement de l'agriculture, de l'industrie comme à la production d'énergie, l'eau est un élément vital. Il convient donc, dans un contexte de changement global, d'analyser dans toute sa diversité la place et le rôle de l'eau et de se donner ainsi les moyens de mieux la préserver. Autour de cet enjeu qui engage toute l'humanité, Agathe Euzen, Catherine Jeandel et Rémy Mosseri ont réuni près de cent cinquante contributions, visant à apporter un éclairage sur chacun des domaines et des approches que couvre cette thématique. Quelle est l'origine de l'eau? Son rapport avec l'apparition de la vie? Quel rôle a-t-elle joué dans l'histoire de la planète et dans le développement de la vie végétale, animale et humaine? Quel est son cycle? Quelles sont ses propriétés chimiques? Comment les sociétés se sont-elles emparées de cet élément précieux? Allons-nous manquer d'eau? L'eau est-elle source de conflits? Comment l'eau est-elle gérée? Comment recycle-t-on une eau polluée? Quels sont les risques pour la santé mondiale? Quels sont les grands enjeux liés à l'eau au xxie siècle? Comprendre et proposer des solutions à ces défis majeurs est l'intention de cet ouvrage
ETUDE DES MECANISMES DE DECAPAGE DU TELLURURE DE CADMIUM EN PRESENCE D'IONS CERIQUES OU FERRICYANURES. APPORT DU COUPLAGE MESURES ELECTROCHIMIQUES/ANALYSE DE SURFACE by FRANCISCO IRANZO MARIN( Book )

2 editions published in 1995 in French and held by 4 WorldCat member libraries worldwide

LES PROPRIETES DECAPANTES DES IONS CERIQUE ET FERRICYANURE SUR CDTE SONT FORT DIFFERENTES. LE TREMPAGE DANS UNE SOLUTION D'ACIDE SULFURIQUE 2M D'IONS CERIQUE EST UN MOYEN DE DECAPER LE MATERIAU A TOUTE CONCENTRATION. LA SURFACE RESULTANTE EST LEGEREMENT ENRICHIE EN TELLURE ELEMENTAIRE. LES IONS FERRICYANURE EN MILIEU BASIQUE (POTASSE 0.5M) NE DECAPENT CDTE QU'A FAIBLE CONCENTRATION. A FORTE CONCENTRATION UN PHENOMENE DE BLOCAGE A LIEU. DANS LES DEUX CAS, LA SURFACE EST COUVERTE D'UNE COUCHE MINCE D'HYDROXYDE DE CADMIUM, ET A FORTE CONCENTRATION IL EXISTE AUSSI DU TELLURITE DE CADMIUM. DES MESURES ELECTROCHIMIQUES (TANT DANS L'OBSCURITE QU'EN PRESENCE DE LUMIERE) SONT A MEME D'EXPLIQUER CES FAITS EXPERIMENTAUX: EN MILIEU ACIDE L'OXYDATION DU MATERIAU A LIEU EN DEUX ETAPES, ET PASSE PAR LE TELLURE ELEMENTAIRE, TANDIS QU'EN MILIEU BASIQUE ELLE SE FAIT EN UNE SEULE ETAPE, LE BLOCAGE ETANT DU A DES PROBLEMES D'EVACUATION DES PRODUITS D'OXYDATION LIES AU MILIEU
ETUDE DES MECANISMES DE DECAPAGE DES SEMI-CONDUCTEURS III-V by DANIELLE LE ROY( Book )

2 editions published in 1994 in French and held by 3 WorldCat member libraries worldwide

LE DECAPAGE DES MATERIAUX SEMI-CONDUCTEURS EST LE PROBLEME CENTRAL DANS L'ENSEMBLE DES PROCEDURES DE FABRICATION DES COMPOSANTS (OPTO-)ELECTRONIQUES. CE TRAVAIL A APPORTE DES RESULTATS NOUVEAUX CONCERNANT LE MECANISME DE DISSOLUTION DE CERTAINS MATERIAUX (GAAS, GAP, INP, ...) EN PRESENCE D'AGENTS OXYDANTS TELS QUE CE#4#+, FE(CN)#6#3#, H#2O#2, I#2, BR#2, ... LES VITESSES DE DISSOLUTION SONT PROCHES EN GENERAL, EXCEPTE EN PRESENCE D'EAU OXYGENEE. DANS CE CAS, LA VITESSE DE DISSOLUTION EST GRANDE POUR GAAS, GAINAS, VOIR GASB ET FAIBLE POUR GAP ET INP. LA VITESSE EST DU PREMIER ORDRE EN FONCTION DE LA CONCENTRATION D'AGENT OXYDANT POUR LES COMPOSES ARSENIES ET D'ORDRE 0.5 POUR LES ESPECES PHOSPHOREES. PAR CONTRE LES VITESSES D'ATTAQUE DE INP, GAP ET GAAS SONT COMPARABLES EN PRESENCE DE CERIUM, FERRICYANURE, BROME ET IODE ET SONT DU PREMIER ORDRE. L'EFFET D'ANION MONTRE UNE INFLUENCE PARTICULIERE DU PHOSPHORE. L'ANALYSE DES MECANISMES DE REDUCTION MONTRE QUE INP ET GAP ONT DES COMPORTEMENTS SEMBLABLES ET OPPOSES A GAAS. CETTE APPROCHE MULTIMATERIAUX NOUS A CONDUIT A ELABORER UN MODELE REACTIONNEL PLUS DEVELOPPE QUE CELUI DONNE PAR NOTTEN ET COLL. A PROPOS DE L'EAU OXYGENEE ET METTANT EN EVIDENCE CERTAINES ESPECES INTERMEDIAIRES IMPLIQUEES DANS LE PROCESSUS DE DISSOLUTION
Cristallochimie de composés dérivés de Cu2ZnSnS4 pour des applications photovoltaïques by Léo Choubrac( Book )

3 editions published in 2014 in French and held by 3 WorldCat member libraries worldwide

The photovoltaic performances of Cu2ZnSnS4 derivatives (CZTS)-based thin film solar cells are strongly dependant of the crystallochemistry properties of this material. Particularly, the copper-poor zinc-rich compounds are widely known to be the most efficient, and the structural disorder as a brake on growth of the efficiencies. A large set of CZTS compounds have been synthesized by solid state route. The study of these compounds permits us to determine a phase diagram which reveals two distinct type of substitution. Then we lead a structural investigation, at the scale of the cell with XRD methods (on powders and single crystals, and on classical as well as on resonant conditions), and at the atomic scale with solid state NMR of 65Cu, 67Zn and 119Sn. The combination of these techniques allows describing these substitution mechanisms and finally a relationship between composition, synthesis conditions and structural disorder. Then, Raman spectroscopy - as a common and thin-film suitable method - has been use as a characterization tool. Finally, a large part of these results have been extended to the homologue selenide compounds (Cu2ZnSnSe4 derivatives)
Etude du comportement électrochimique de semiconducteurs III-V en présence d'hétéropolyanions by Aude Rothschild( Book )

2 editions published in 1997 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

Les hétéropolyanions constituent des systèmes multiélectroniques fort intéressants pour la modification d'électrodes vis-28à-vis du dégagement d'hydrogène. Comme sur les électrodes métalliques, la modification de deux semi-conducteurs iii-v (inp et gaas) s'avère également possible et conduit à l'abaissement de la surtension du dégagement d'hydrogène d'environ 500 mv. Néanmoins, a l'inverse des électrodes métalliques qui nécessite une polarisation vers les potentiels très négatifs, la modification de gaas peut s'effectuer par simple trempage au potentiel de repos. Au contraire, inp, qui ne peut se modifier que par la méthode de polarisation rejoint le comportement électrochimique des électrodes métalliques. Cette opposition entre deux matériaux en apparence semblable est directement liée à la position relative des systèmes redox de l'hétéropolyanion vis-à-vis de chacune des bandes du semi-conducteur. l'hétéropolyanion de Keggin
Films de Langmuir-Blodgett à base de nanoparticules de platine à enrobage organique modifié : élaboration, caractérisation et comportement électrochimique by Sara Cavaliere( Book )

in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

Ce travail porte sur l'élaboration et la caractérisation physico-chimique et électrochimique de films de Langmuir-Blodgett (LB) à base de nanoparticules de platine enrobées par la 4-mercaptoaniline. Cette couronne est modifiable par des réactions chimiques (réactions de sur-greffage), ce qui induit des modifications sur les caractéristiques et les propriétés de ces systèmes nanocomposites (stabilité, solubilité, structure, conductivité...). En particulier nous avons étudié la variation du comportement électrochimique avec l'enrobage organique vis-à-vis de deux sondes principales : le couple [Fe(CN)6]3-/4-, sonde mono-électronique traditionnelle de sphère externe, et l'oxygène, sonde multi-électronique spécifique de la surface de Pt avec des applications de grand intérêt (piles à combustible). L'électroactivité des nanocomposites a été observée sans activation préalable. La stabilité de leur composition et de leur structure après les traitements électrochimiques a été vérifiée par XPS. La technique LB permet d'élaborer des films mono-moléculaires avec contrôle de l'épaisseur, de la densité de particules et de la structure. Nous avons donc agi sur ces paramètres afin d'étudier l'évolution du comportement électrochimique de ces nanomatériaux. Les expériences sur la variation de la quantité de particules et sur l'élaboration d'hétéro-nanostructures composées de couches de différente composition a permis de comprendre le fonctionnement électrochimique de tels systèmes. L'étude d'autres sondes électrochimiques sensibles à la structure de la surface d'électrode (N2H4, NH3, H2...) nous a conduit à avancer des hypothèses sur les plans cristallins exposés par les nanoparticules
Caractérisation et modélisation d'une adhérence moléculaire renforcée by Natacha Cocheteau( Book )

2 editions published in 2014 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

Le collage par adhérence moléculaire est un collage basé sur la mise en contact de deux surfaces sans l'utilisation de colle ou matériaux additionnels. Ce procédé de collage est utilisé dans de nombreuses applications, notamment dans les domaines de l'optique terrestre et spatiale. Bien qu'un prototype ait déjà passé avec succès l'environnement spatial - où les contraintes d'utilisations sont différentes de celles rencontrées sur Terre - la spatialisation de cette technologie nécessite une caractérisation plus fine du procédé ainsi qu'une amélioration de la tenue mécanique des interfaces adhérées afin de valider les normes de l'Agence spatiale Européenne. Pour répondre à cette problématique de spatialisation de la technologie, des essais mécaniques ainsi que des analyses chimiques ont été réalisés dans le but d'étudier l'influence de certains paramètres du procédé ) sur la tenue mécanique et l'énergie de collage. Ces essais ont également été réalisés afin de comparer les deux matériaux étudiés : le verre de silice et le Zérodur vis-à-vis de l'adhésion. A l'issue de ces essais, les paramètres à appliquer permettant de doubler la tenue mécanique des interfaces adhérées ont été déterminés. Parallèlement, une loi phénoménologique reliant l'énergie de collage aux précédents paramètres du procédé a été développée ainsi qu'un modèle macroscopique visant à décrire l'intensité d'adhésion. Ces deux modèles une fois couplés permettent de modéliser le comportement normal de l'interface en fonction des paramètres du procédé. Enfin, ces deux lois sont implémentées dans un code éléments finis afin de simuler la propagation de la fissure lors de l'essai de clivage au coin
Développement d'accumulateur nouvelle génération Mg ion by Julien Richard( )

1 edition published in 2017 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

This PhD thesis aims to develop Mg-Ion cathode materials. Once the electrolyte selected and the electrochemical characterization system established, two insertion materials families were studied: Chevrel phases and manganese dioxides.The Chevrel phases Mo6S8 and Mo6Se8 have been the subject of a coupled electrochemistry / XPS ex situ understanding study. The two phases were characterized by voltammetry, GITT and PITT showing diffusion coefficients ranging from 10-11 to 10-14 cm2.s-1. Unconventional redox mechanisms were observed by XPS studies indicating a charge transfer inside the anions in addition to the reduction of the transition metals. The comparison of the two materials Mo6S8 and Mo6Se8 indicates the sulfur is more involved in the charge transfer than the selenium.In the second part, two MnO2 promising structures have been selected and studied: hollandite and birnessite. We evidenced that electrolyte hydratation is needed to allow the insertion inside the different MnO2 structures. RMN 1H and XPS analyses revealed a co-insertion phenomenon involving Mg2+ cations and H2O molecules. However, these compounds exhibit a poor cyclability and irreversible capacities of 50% to 80%. This understanding work is a first step towards the design of new reversible insertion materials for Mg-Ion batteries
Croissance confinée de nanofils/nanotubes métalliques : élaboration et intégration dans les cathodes des PEMFC by Olivier Marconot( )

1 edition published in 2016 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

The two main drawbacks of Proton Exchange Membrane Fuel Cells (PEMFC) are the low electrode durability and the high platinum loading (electrocatalyst for oxygen reduction reaction). Currently, PEMFC electrodes, named as Pt/C, are made of platinum nanoparticles supported by carbon nanoparticles. The aim of this PhD work is to propose, elaborate and test in complete fuel cell new electrode nanostructure consists in self-supported platinum nanotubes. We target a reduction in the platinum loading and an increase in the electrode durability. In order to control nanostructure geometries, a porous alumina mold is used. This template is obtained by electrochemical anodization and vertically aligned nanopores are obtained. Platinum is subsequently deposited onto pore walls by e-beam evaporation or electrochemical deposition processes. After the hot pressing of the Nafion® proton exchange membrane, the porous alumina mold is etched and platinum nanotubes are stuck and self-supported onto the membrane. A part of this work is dedicated to the quantification of performances losses of Pt/C electrodes and nanostructured electrodes in complete fuel cell test operating conditions. Nanostructured electrodes exhibit high durability and easy oxygen access on catalyst surface compared to Pt/C electrodes. However, some losses kinetics remains due to the low catalyst specific area
Nouvelles approches pour la caractérisation d'éléctrodes poreuses pour la réduction de O² : des structures modèles à base de platine aux structures exemptes de métaux nobles by Xi Cheng( Book )

2 editions published in 2013 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

This work focus on the development of new approaches for the characterization of porous electrodes dedicated to the O2 reduction. They are established through the elaboration of model porous structure formed by controlled combination of platinum electrocatalyst grafted with organic component and carbon nanotubes. Two new methods have been established: firstly, an alternative method to use of rotating electrodes for the determination of the selectivity of the O2 reduction; secondly, the determination of a specific surface area of porous electrode named S-AO2 which is directly related to the O2 reduction and which can be expressed in m2/g of catalyst, in cm2/cm3 of active layer or in cm2/cm3/g of catalyst. A determination of this parameter has been established on platinum-free porous structure based on nitrogen doped nanotubes, for which a study of the active sites for the O2 reduction is also presented
Etude du comportement chimique et électrochimique de InP recouvert d'un film de phosphazène en milieu aqueux by Oula El Ali( Book )

2 editions published in 2012 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

For several years, many studies have focused on optimizing the performance of III V materials, specifically on indium phosphide "InP". In this context, the development of methods forming the polyphosphazene like film on the surface of InP are optimized. The galvanostatic mode, carried out under illumination in liquid ammonia, shows that anodic charge of the order of 0.26 mC.cm 2 is sufficient to obtain a film covering the entire surface of InP. Coupling interfacial electrochemistry / chemical surface analysis (XPS) were used to study the chemical behavior of polyphosphazene type film in aqueous media. Indeed, the chemical stability of the modified surface of InP is perfectly demonstrated in basic Medias (1M and 4M KOH) and acid Media 1M HCl. However, the film becomes unstable after 3 days in 2M HCl, and changes after 10 min in 3.5 M HCl. Similarly, the action of Br2 MeOH can remove a part of the surface film. Our work has also focused on the study of the electrochemical behavior of polyphosphazene film in aqueous acid (0.1 HCl) media. Indeed, the remarkable stability of the matrix of InP vs. a cathodic high charge Q ≈ - 336 mC.cm 2 is observed. However an anodic charge Q ≈ 4 mC.cm 2.is sufficient to modify the film. The establishment of the chemical and electrochemical signature of polyphosphazene like film which is obtained from the treatment in liquid NH3 (≈ 55°C), opens new perspectives for studies of particular interest
Traitements électrochimiques contrôlés sur diamant : corrélation entre chimie superficielle et réactivité électrochimique by Hugues Girard( Book )

2 editions published in 2008 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

Le diamant présente un grand nombre de propriétés très intéressantes, à la fois dans le domaine de l'électronique, de l'optique, mais aussi en électrochimie. Dopé au bore, c'est un semiconduc¬teur à grande énergie de bande interdite (≈5,5 eV) et il est utilisé en tant que matériau d'électrode en raison de sa forte inertie chimique et de son large domaine d'électroactivité. Cependant, son comportement électrochimique est complexe et fait actuellement l'objet d'une intense activité de recherche. Parmi les facteurs qui influent sur la réponse des électrodes de diamant dopé au bore, la nature des terminaisons de surface (principalement « hydrogénées » ou « oxygénées ») est au centre des préoccupations. Nous nous sommes donc attachés à analyser l'influence de traitements électrochimiques sur la réactivité et la chimie de surface du matériau, afin de mieux comprendre les phénomènes mis en jeu au cours des transferts de charge. L'évolution du comportement des électrodes a été suivie grâce à des mesures électrochimiques (I-V en présence de couples redox et C-V) et les modifications de la chimie superficielle ont été caractérisées par des analyses XPS et des mesures d'angle de contact
Nouvelles approches d'utilisation de la spectroscopie de photoélectrons à rayons X (XPS) pour le développement et le contrôle des technologies FDSOI avancées by Laurent Fauquier( )

1 edition published in 2017 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

The downscaling and the increasing complexity of integrated circuits is one of the microelectronics industry development axes. To insure the transistor performances, a precise mastering of thickness, crystalline structure and composition, notably the nitrogen dose, is mandatory for each stack layer. Yet, this complex architecture arises new challenges for metrology. Indeed, with the alternation of very thin films, conventional metrology techniques, based on volume measurements, are difficult to implement. This is why, an increasing use of X-rays techniques can be noticed, such as X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); a well-established method for the quantitative thickness and chemical composition study of ultrathin films (<10nm). Thus, the major aim of this thesis is to explore new ways to implement XPS technique, in both the usage methodology and the test structures studied. First, this work focuses on a composition and thickness analysis of homogeneous thin films of the 14nmFDSOI and 28nmFDSOI technologies gate stack composed of an SiGe channel and a High-k/interfacial layer (HK/IL) HfON/SiON stack. The XPS thickness measurement applied to the HK/IL is firstly studied for purposes of validating its application for in-line monitoring, as well as analyzing the inelastic diffusion effects on this measurement. In order to determine the composition and thickness of SiGe layers on silicon substrate, the study of an hybrid metrology, between XPS and the X-ray reflectivity (XRR) technique, is carried out to determine the feasibility and the sensibility of this method. Secondly, this work focuses on the study of heterogeneous stack along the depth thanks to pARXPS (parallel Angle Resolved XPS), used to obtain chemical profile reconstructions. After a validation step of this technique on HfON, SiON and SiGe layers, it is used on industrial stacks. Taking into account the profiles into the real industrial gate stack allows us to study the SiGe oxidation effects on the germanium profile and to improve the accuracy and the sensibility of the composition and the thickness measurements of HfON and SiON layers with the industrial in-line XPS. Finally, the exploration of less conventional ways to use XPS (e.g. 3D structures, crystallinity study...) opens new perspectives for the characterization of thin films
Etude des propriétés physico-chimiques d'interfaces par photoémission by Djawhar Ferrah( Book )

2 editions published in 2013 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

The main objective of this thesis is to study the chemical and physical properties at the surface or at the interface between thin layers by photoemission spectroscopy (XPS), photoelectron diffraction (XPD), and time resolved photoemission (PTR) . The experiments were conducted using an Alka source at INL or soft -X ray synchrotron radiation at Soleil, the French national Synchrotron facility. The first photoemission study has been performed on platinum deposited on thin Gd2(h layers grown by Molecular Bearn Epitaxy (MBE) on Si (111) substrate. The charge transfer between Pt and 0 at the interface causes a chemical shift to higher binding energies without changing the characteristic shape of the metal XPS peak. The XPD study shows that Pt is partially crystallized into two (111)-oriented do mains on Gd20 3 (111) with the in-plane epitaxial relationships [11 0] Pt (111) / / [11 0] Gd203 (111) and [101] Pt(111)/ / [11 0] Gd20 3 (111). In addition to bi-domains formation of platinum Pt (111) on Gd20 3 (111), a new ordered phase of platinum oxide Pt02 at the Pt/ Gd203 interface have been observed. The study of the background of the polar curves depending of the morphology has shown, that the film of Pt does not wet on the oxide, due to the low energy of interaction at the interface compared to the Pt thin layer. The second study has been interested to the photoemission time-resolved study of non-reactive metal / semiconductor model system. We have studied the thin layer gold (Au) growth on silicon (Si) substrate before and during annealing in TEMPO beam line (synchrotron Soleil).The XPS study, shows before annealing the formation of silicon native oxide on heterostructure at ambient temperature. The desorption of silicon oxide during annealing at low temperature induce photoemission intensity decreases with time. The desorption of oxide and alloy formation (AuSi) induce distribution of pits with cubic form at silicon surface due to gold etching activity. The third photoemission study has concerned thin films of a few layers of graphene obtained by solid-state graphitization from 6H-SiC (0001) substrates have been studied by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and X-ray photoelectron diffraction (XPD). The Cls core-level has been resolved into components, which have been associated with carbon from bulk SiC, carbon from graphene and carbon at the interface graphene/ 6H-SiC (0001). Then, the intensity of each of these components has been recorded as a function of polar (azimuth) angle for several azimuth (polar) angles. These XPD measurements provide crystallographic information which clearly indicates that the graphene sheets are organized in graphite-like structure on 6H-SiC(0001), an organization that results of the shrinking of the 6H-SiC (0001) lattice after Si depletion. Finally the decoupling of graphene from 6H-SiC (0001) substrate by oxygen intercalation has been studied from the XPS point of view. Finally, photoemission study has concerned thin film of InP (phosphor indium ) islands grown by Molecular Bearn Epitaxy (MBE) on SrTi03 (001) bulk substrate have been investigated by X-ray photoelectron spectroscopy and diffraction (XPS/ XPD).Integration of III-V semi-conductor on silicon wafer, via SrTi03 buffer is currently the subject of intense research because of its potentially interesting applications in future nano-optoelectronics. The Ols, Sr3d, Ti2p, In3d, and P 2p core level area have been studied as function of azimuth angle for different polar angles. Comparison of the XPD azimuth curves of Sr3d and In3d shows that islands InP are oriented (001) with an in-plane epitaxial relationship [110] InP(001 ) // [100] SrTi03 (001). AFM images shows that InP islands are regularly dispersed on the surface. Their shape is a regularly facetted half-sphere
Anisotropic Surface Roughness in Molecular-Beam Epitaxy CdTe (211)B/Ge(211) by Giacomo Badano( )

1 edition published in 2008 in English and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

Analyse par XPS d'empilements High-K Metal Gate de transistors CMOS et corrélation des décalages d'énergie de liaison aux tensions de seuil by Charly Fontaine( )

1 edition published in 2019 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

The last microelectronic technologies includes transistors with materials of high dielectric constant (high-k ) associated to metal gate (we use the abbreviation HKMG for high-k - bad metal). If this pile allows to keep a sufficient quantity of charges in the channel, it is more difficult to check the threshold voltage of transistors because of the presence of charge and of dipole in these layers or in the interfaces. Two preliminary studies established that there is a correlation between the binding energies measured by XPS of a pile HKMG and the threshold voltage of a transistor using the same pile. Charges are present in the insulating layers of piles HKMG, leading to a difference of the electrostatic potential within these layers. A modification of the effective workfunction of the metallic electrode of the transistor in s then observed, and in XPS these charges lead t oa variation of the kinetic energy of electrons extracted from the layer. The purpose of this thesis is simulate in a quantitative way the electrostatic impact of this charges and dipôles and to compare this impact with the observation made by XPS as well as with the electric measures of the threshold voltage of transistors. This will then allow to estimate the variation of the threshold voltage of transistors well further in the manufacturing process
Etude Operando des accumulateurs au lithium par couplage spectroscopie à photoémission des rayons X et spectroscopie d'impédance by Jorge Eduardo Morales Ugarte( )

1 edition published in 2019 in English and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

Face aux grands défis industriels dans les domaines du stockage électrochimique de l'énergie, un effort de recherche fondamentale sur les matériaux impliqués et leurs interfaces est aujourd'hui indispensable pour un gain en performance, durabilité, sécurité.Dans ce contexte, il est primordial de comprendre les processus interfaciaux mis en jeu qui induisent la dégradation de l'interface lithium métal-électrolyte et entrainent une baisse du rendement Coulombique et favorisent la croissance dendritique.Nous proposons ainsi dans cette thèse une étude couplant des techniques électrochimiques comme la spectroscopie d'impédance avec des techniques d'analyse de surface comme la spectroscopie à photoémission des rayons X pour étudier la réactivité chimique et électrochimiques entre les électrolytes et une électrode de lithium métal.Pour ce faire, un intérêt spécifique a été porté aux électrolytes à base de liquides ioniques, qui ont été proposés comme solvants des sels de lithium, notamment pour leur faible pression de vapeur saturante qui augmente considérablement la sécurité des batteries ainsi conçues.Enfin, ce travail a été consacré en particulier au développement de montages et de mesures operando XPS afin de suivre l'évolution chimique des interfaces à l'intérieur d'une batterie en temps réel
Croissance et caractérisation d'oxydes minces photogénérés electrochimiquement sur n-InP by Ngoc Chang Quach-Vu( Book )

2 editions published in 2005 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

The electrochemical behavior, in oxidation, of a semiconductor III-V n-InP, was studied in the contact of two aqueous solutions of 2 pH for which the solubility of the products of corrosion stemming from the photo-oxidation is totally different. This work articulated around 2 axes, the one concerning the manufacturing process of a film of oxide about InP, and the second concerning the characterization as well in situ as ex situ of this oxide. The studies showed a fast formation of a very thin homogeneous layer (of the order of some nm) and little porous presenting good chemical and electric passivating properties a the imposed potential. The electric system constituted by the interface InP / Oxide becomes blocking in few seconds, and the blocking properties of the oxide is such as he can play the role of electric barrier the transfer of the electrons of the BC and in the transfer of the holes of the BV. The joint study of the capacity measurement, the photocurrents transient and its regeneration was realized, and put in evidence for n-InP, three stages in the formation and the growth of the oxide photogenerate. The analysis of the photocurrent transient can be considered as a good tool for the information in situ about the quality of oxides not transformed on InP (covering(collection), porosité, chemical stability)
Etude de l'adsorption de l'hydrogène atomique et ses conséquences sur n-InP : suivi "In situ" par photoluminescence by Caroline Adelia Yvonne David( Book )

2 editions published in 2006 in French and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

La thèse porte sur la mise en évidence et la compréhension des transferts d'électrons liés à la réduction des protons et des molécules d'eau, lorsque l'hydrogène atomique s'adsorbe à la surface de InP. L'étude de cet enchainement peut être faite par le biais d'outils électrochimiques, mais aussi par photoluminescence (PL). Le point essentiel de cette thèse est d'établir un lien entre les variations spécifiques d'intensité de PL (IPL) et les mécanismes électrochimiques d'interface liés aux transferts d'électrons. L'amplitude de cet exaltation de IPL a été un point essentiel et a permis de discriminer entre plusieurs origines potentielles pouvant expliquer ces variations de IPL : le phénomène d'accumulation d'électrons et la modification des propriétés recombinantes de surface (induite par la passivation de InP)
Morphology-to-properties correlations in anodic porous InP layers by Lionel Santinacci( )

1 edition published in 2009 in English and held by 2 WorldCat member libraries worldwide

 
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